F1503
  昇温脱離ガス質量分析装置(TDS-MS)
1. 装置
| メーカー | 電子科学 | 
|---|---|
| 型式 | TDS 1200II | 
2. 特徴
    装置外観
1×10-7Pa以下の超高真空内で試料を加熱し、脱離したガス成分は、電子イオン化法でイオン化されます。生成したイオンは四重極型の質量分析器にて検出されます。このm/z値から、水や水素などを定性し、定量することができます。
3. 仕様及び性能
| 測定質量範囲 | m/z 1〜200(Bar測定の場合:m/z 1〜199) | 
|---|---|
| 質量分解能 | M/ΔM ≧ M | 
| 試料加熱温度 | 〜1,200℃(標準)<〜1,300℃(最大)> | 
| 大気フリー測定 | トランスファーベッセルを使用して対応可能 | 
4. 測定試料
| 対象試料 | 主に無機化合物(金属、ガラス、セラミックなど) | 
|---|---|
| 試料量サイズ | 15mm×15mm×5mm(最大) | 
5. 留意点
| 試料 | 有機物で汚染された試料は不可。 ハロゲン原子(特にフッ素)が多く発生する試料は不可。 磁性体は不可。  | 
    
|---|---|
| 取り扱い | 超微量分析であるため、試料の取り扱いは注意する。 | 
6. 応用分野及び適用例
| 応用分野 | 適用例 | 
|---|---|
| 水分管理 | 積層間絶縁膜、シリコンウエハなど | 
| 無機ガス含量の確認 (H2、N2※、CO※、O2、CO2等)  | 
        金属、セラミック、シリコンウエハなど | 
| 汚染管理 | シリコンウエハ表面の汚染の確認 | 
※区別できないため(いずれもm/z 28)、それぞれを最大の場合の値として算出。





















