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2012年03月02日
展示会情報 3月21日（水）～23日（金） CPhI Japan 2012 -
2012年03月01日
技術紹介 【有機材料】 CFH三重共鳴プローブを用いたフッ素系化合物の13C-NMR測定 -
2012年03月01日
装置紹介 【有機分析】 核磁気共鳴装置（Cryo Probe付属） -
2012年03月01日
外部発表 学会発表に1件追加 -
2012年02月01日
技術紹介 【安全性試験】 UBE科学分析センターの安全性評価試験 -
2012年02月01日
技術紹介 【半導体】 SIM像を用いたLSIの不良箇所の特定 -
2012年01月04日
装置紹介 【形態観察】電界放射型透過電子顕微鏡 -
2012年01月04日
装置資料 【形態観察】 透過型電子顕微鏡試料作製方法 -
2012年01月04日
装置資料 【形態観察】 透過型電子顕微鏡試料作製：ミクロトーム法 -
2012年01月04日
装置資料 【形態観察】 透過型電子顕微鏡試料作製：FIB法 -
2012年01月04日
装置資料 【形態観察】 透過型電子顕微鏡試料作製：Arミリング法 -
2012年01月04日
外部発表 学会発表 2件追加 -
2011年12月01日
装置紹介 【表面分析】 多機能走査型Ｘ線光電子分光装置（VersaProbe） -
2011年11月01日
外部発表 論文発表 1件、学会発表 4件追加 -
2011年11月01日
技術紹介 【高分子材料】 デジタルマイクロスコープVHX-1000の同軸落射照明像 -
2011年11月01日
技術紹介 【高分子材料】 デジタルマイクロスコープVHX-1000の偏光照明像 -
2011年11月01日
技術紹介 【高分子材料】 デジタルマイクロスコープVHX-1000の微分干渉像 -
2011年11月01日
技術紹介 【有機材料】 ポリエステル塗料の分析 -
2011年11月01日
技術紹介 【ナノ材料】 走査型プローブ顕微鏡（SPM）による分析の概要 -
2011年11月01日
技術紹介 【有機材料】 HPLCによる樹脂中の残存イソシアネートの分析 -
2011年10月01日
外部発表 学会発表に1件追加 -
2011年10月01日
技術紹介 【有機材料】 GC/MSによるエチレンジアミン四酢酸の高感度分析 -
2011年10月01日
技術紹介 【異物分析】 ミリングプロによるガラス中埋没物の同定 -
2011年09月01日
技術紹介 【金属・無機材料】 ラマン分光法による溶液中のヨウ素の定量的評価 -
2011年09月01日
装置紹介 【形態観察】 Cs（球面収差）補正STEM -
2011年09月01日
外部発表 論文発表に2件追加 -
2011年08月01日
技術紹介 【有機材料】 赤外吸収スペクトルの二次微分解析による脂肪酸金属塩の定量 -
2011年08月01日
技術紹介 【金属・無機材料】 偏光ラマン分光法によるPbTiO3結晶膜の配向性評価 -
2011年08月01日
技術紹介 【金属・無機材料】 偏光ラマン分光法によるPbTiO3結晶膜の配向状態マッピング -
2011年08月01日
技術紹介 【金属・無機材料】 TOF-SIMSによる無機ケイ素化合物の化学状態分析 -
2011年08月18日
お知らせ 名古屋営業所開設のお知らせ（8月18日より営業を開始しました） -
2011年08月18日
お知らせ 大阪営業部移転のお知らせ（8月18日より営業を開始しました） -
2011年07月01日
技術紹介 【高分子材料】 EELSによるシリコーン樹脂中のSiO2の分布測定 -
2011年07月01日
技術紹介 【高分子材料】 フッ素系潤滑膜のTOF-SIMS分析 -
2011年07月01日
技術紹介 【有機材料】 フタロシアニン系化合物のTOF-SIMS分析 -
2011年07月01日
技術紹介 【分析対象】CE/MS によるイオン液体の分析 -
2011年07月01日
技術紹介 学会発表に2件追加 -
2011年06月01日
技術紹介 【半導体】 EELSスペクトルラインプロファイルによる酸化膜解析 -
2011年06月01日
技術紹介 【半導体】 EDS制限視野マッピング測定 -
2011年06月01日
技術紹介 【リチウムイオン二次電池】 雰囲気遮断ホルダーを用いたSEM観察 -
2011年06月01日
技術紹介 【有機材料】 各種有機化合物の微量分析（誘導体化法および測定方法） -
2011年06月01日
技術紹介 【有機材料】 HPLCによるモノエタノールアミンの高感度分析 -
2011年06月01日
技術紹介 【有機材料】 微量のビスフェノールAの分析 -
2011年06月01日
技術紹介 【高分子材料】 1H-NMR分光法による無水マレイン酸グラフトポリオレフィンのグラフト率高感度定量分析 -
2011年06月01日
技術紹介 【高分子材料】 ポリプロピレンコンパウンドの分析 -
2011年05月01日
技術紹介 【ナノ材料】 XPSによる単層カーボンナノチューブの表面官能基分析 -
2011年05月01日
技術紹介 【安全性試験】 化審法に定める有害性情報の報告について -
2011年05月01日
技術紹介 【安全性試験】 グリーン購入法及びエコマーク認定とAmes試験 -
2011年05月01日
技術紹介 【安全性試験】 Ames試験における被験物質に応じた試験手法の選択 -
2011年05月01日
技術紹介 【安全性試験】 Polymerを被験物質とするAmes試験 -
2011年05月01日
技術紹介 【安全性試験】 マウスリンフォーマTK試験 ～スクリーニングMLA～ -
2011年05月01日
技術紹介 【安全性試験】細胞毒性試験 -
2011年05月01日
技術紹介 【安全性試験】低懸念ポリマー事前確認申出制度について -
2011年05月01日
技術紹介 【安全性試験】高分子フロースキームによる新規高分子届出（判定通知受取までの流れ） -
2011年05月01日
技術紹介 【安全性試験】 工業製品の異物・変色へのATP活性測定の利用 -
2011年04月01日
お知らせ 社名変更のお知らせ -
2011年04月01日
技術紹介 【ナノ材料】 還元雰囲気下ダイナミックTGAによるカーボンナノチューブの分析 -
2011年04月01日
技術紹介 【加熱発生ガス】 TCT-GC/MSによるシリコーンゴムから発生する微量シロキサンの定量分析 -
2011年04月01日
技術紹介 【半導体】 AFMによる精密研磨面の表面形状比較 -
2011年04月01日
技術紹介 【高分子分析】 デジタルマイクロスコープによる印刷物の超高精細観察 -
2011年04月01日
技術紹介 【高分子分析】 デジタルマイクロスコープによる成形品の形状測定（3D） -
2011年04月01日
装置紹介 【高分子分析】 デジタルマイクロスコープ -
2011年03月17日
お知らせ 東北地方太平洋沖地震の影響に関するお知らせ -
2011年03月01日
技術紹介 【金属・無機材料】 技能試験 「水中の重金属分析(日環53-10WM)」 -
2011年03月01日
技術紹介 【金属・無機材料】 材料中のIrの分析 -
2011年03月01日
お知らせ ホームページをリニューアルしました