高精細化・低消費電力化・長寿命化が求められる現在のディスプレイ開発では、微細パターンの均一性確保、材料劣化の早期検出、生産ラインでの歩留まり改善など、多くの技術課題が顕在化しています。DNP科学分析センターは、長年蓄積した液晶・有機EL材料評価、デバイス故障解析、異物・界面分析の専門技術を活かし、開発から量産までの課題解決を強力に支援します。
LCD
液晶ディスプレイ（LCD）は、2枚のガラス板の間に液晶物質を挟み、電圧をかけることによって液晶分子の向きを変え、光の透過率を増減させることで像を表示する構造になっています。
弊社はLCDデバイスの故障解析に経験と高い技術を有しており、FPDの開発に貢献しております。
分析項目
| 分析項目 | 使用機器・手法 | 分析事例 |
|---|---|---|
| 表面組成・化学状態 | XPS | XPS価電子帯スペクトルによる材料評価 |
| 有機膜の分子構造 | TOF-SIMS | クラスター型一次イオンを用いた有機顔料の分析 |
| 表面汚染 | TOF-SIMS | TOF-SIMSによるLCD材料の分析 |
| 多層構造 | AES | オージェによるLCDのデプスプロファイル測定 |
| 断面層構造 | TEM、TOF-SIMS | 傾斜切削法を用いた有機感光体（OPC）のTOF-SIMS分析（1） |
| 傾斜切削法を用いた有機感光体（OPC）のTOF-SIMS分析（2） | ||
| 結晶構造 | XRD | 高分子表面の分子鎖配向性評価（1） |
| 高分子表面の分子鎖配向性評価（2） | ||
| 高分子表面の分子鎖配向性評価（3） | ||
| 欠陥解析 | TEM、SEM | 結晶性粒界構造の解析 |
| アモルファス粒界構造の解析 | ||
| 異物分析 | FT-IR、AES | 顕微IRマッピング法による材料表面の分析 |
| IRイメージング法による微小異物の分析（3） | ||
| オージェによる異物断面の分析 |
有機EL
有機ELディスプレイは、電気を流すと光る性質をもった有機物質(発光体)を使ったディスプレイで、自発光で見やすく、省電力、高速応答であるという特徴を持っています。有機ELの研究開発には、有機成分の組成や構造を詳細に調べなければなりませんが、弊社は有機成分の構造解析に強みを持っており、有機ELの研究開発に大きく貢献いたします。
分析項目
| 分析項目 | 使用機器・手法 | 分析事例 |
|---|---|---|
| 表面組成・化学状態 | XPS | XPSによる有機薄膜分析 |
| 有機膜の分子構造 | NMR | 有機EL材料の構造解析 |
| TOF-SIMS | TOF-SIMSによるEL材料の分析 | |
| ASAP（質量分析用大気圧固体試料プローブ）による有機EL材料の分析 | ||
| 有機膜の組成分析 | Py-GC/MS | 熱分解GC/MSによる有機EL化合物錯体系の構造解析 |
| 表面汚染 | TOF-SIMS | TOF-SIMSによるカラーフィルタ表面の分析 |
| 多層構造 | AES | |
| 断面層構造 | TEM | FIB-STEM法を用いた有機ELディスプレイの分析 |
| 有機EL膜の異物分析 | ||
| 断面の結晶構造 | TEM-ED | 異物の構造解析 |
| 異物分析 | FT-IR | ＩＲイメージング法による微小異物の分析 |