次世代太陽電池では、膜質均一性の確保・界面劣化・成分拡散・耐久性向上など、開発から量産化まで多くの技術課題が存在します。当センターでは、XPS・TOF‑SIMS・電子顕微鏡などの高度解析を駆使し、劣化要因の特定、プロセスばらつきの可視化、材料・構造の最適化を強力にサポートします。研究段階から製造ライン改善まで、課題解決につながる確かな分析力でお応えします。
太陽電池
分析項目
| 分析項目 | 使用機器・手法 | 分析事例 |
|---|---|---|
| 表面形状 | SPM、SEM | 表面の形状劣化の観察 |
| 多層構造・化学状態 | XPS、AES、XRD | Arガスクラスターイオンビームを用いた有機膜のXPS深さ方向分析 |
| XPSによる有機薄膜太陽電池表面層の深さ方向分析 | ||
| 断面層構造 | TEM、TOF-SIMS | TOF-SIMSによる結晶Si太陽電池モジュールの分析 |
| 断面の結晶構造 | TEM-ED | 微小欠陥の解析 |
| FIB-SIM | 結晶方位の解析 | |
| 欠陥解析 | TEM、SEM | TEMによる微小欠陥の解析 |